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簡要描述：光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)，一體化的低溫共聚焦測試解決方案，包含共聚焦顯微成像、拉曼光譜和磁光克爾功能模塊
產(chǎn)品型號：CFM廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-12-12訪 問 量：1876詳細(xì)介紹
光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)
一體化的低溫共聚焦測試解決方案，包含共聚焦顯微成像、拉曼光譜和磁光克爾功能模塊
光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng) 組件
系統(tǒng)組件 – 01. 可堆疊光學(xué)功能模塊
>> 熒光/拉曼光譜模塊
集成化的熒光/拉曼光譜測試光路，可直接安裝在共聚焦樣品桿上
產(chǎn)品亮點
– 基于光纖的共聚焦掃描測試，可?光纖芯徑: 4, 10, 25, 50, 100, 200 μm；
– 光學(xué)元件可更換以適用于不同波長的應(yīng)用；
– Kohler 光照方式實現(xiàn)大面積/均勻的照明范圍 ΦFOV～30 μm；
– 集成了CMOS相機(jī)，具備Type-C接口；
– 1" 或 0.5" 光學(xué)元件可?動旋轉(zhuǎn)安裝
>> 磁光克爾模塊
集成化的磁光克爾(MOKE)測試光路，可直接安裝在共聚焦樣品桿上
產(chǎn)品亮點
– ?套測試裝置可實現(xiàn)兩種表征方式：圖像襯度與PEM鎖相；
– PEM+鎖相實現(xiàn)超?精度單點測量；
– 寬場成像模式，調(diào)制模式提高了磁滯回線測量靈敏度
– 采用電機(jī)精確控制旋轉(zhuǎn)角度，精確對準(zhǔn)偏振片與PEM
>> 磁光克爾 – 光彈調(diào)制器PEM
緊湊的光彈調(diào)制器，可安裝至共聚焦模塊上使用，也可作為獨立器件
系統(tǒng)組件 – 02. 共聚焦樣品桿
系統(tǒng)組件 – 03. 低溫光學(xué)物鏡
系統(tǒng)組件 – 04. 樣品安裝
靈活方便的樣品安裝方式，實現(xiàn)光電聯(lián)合測試
系統(tǒng)組件 – 05. 納米運動單元
多場低溫科技（北京）有限公司于2017年正式運營，在2021年團(tuán)隊整體遷入懷柔科學(xué)城產(chǎn)業(yè)園；并且公司在2020年獲得高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì)，2023年獲得北京市專精特新企業(yè)認(rèn)證。
多場科技積極推動技術(shù)延伸，迅速發(fā)展出高水平的全環(huán)境超精密壓電運動控制以及綜合物性表征手段，形成了模塊化的全品類超精密運動控制以及涵蓋力熱聲光電全方面的物性表征系列產(chǎn)品，并推出了融合多場先進(jìn)技術(shù)的綜合物性表征平臺等整體化解決方案。公司產(chǎn)品已服務(wù)于國內(nèi)外百余所高校及研究機(jī)構(gòu)。
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